BA-4000 Bit Analyzer - BA-4000误码率分析仪 - 800G电误码率分析仪

概述
支持NRZ和PAM4编码的电误码率分析仪，配备先进的FEC工具，支持800G测试。

主要优点

  • 100G（4x28GBd）、400G（4x56GBd）；800G（8x56GBd） 
  • 支持NRZ和PAM4编码 
  • 支持PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q、SSPRQ 
  • FEC功能：支持FEC Encoded Scrambled Idle码型，以测试53 GBd host侧接口 
  • 通道模拟器 
  • 插入突发/随机的误码 

应用

  • 测试和验证光模块与线缆
  • 测试光器件和PIC
  • 测试高速集成电路

资源

规格书

BA-4000误码率分析仪
用户手册

BA-4000 - Electrical 800G Bit Error Rate Tester
所有资源

描述

误码率（BER）是数字通信的关键性能指标。通过误码率分析仪，可以评估网络、子系统或组件的信号传输质量。该分析仪将接收到的数据流与传输的序列进行比较，并计算出误码数量

BA-4000 误码率分析仪是一款专为生产车间设计的 NRZ/PAM4 电误码率测试设备。它有六种型号： 

  • BA-4000-4-28-NRZ：100G BERT，包括4通道NRZ 28 Gbit/s。 
  • BA-4000-8-28-NRZ：200G BERT， 包括8通道NRZ 28 Gbit/s。 
  • BA-4000-4-28-PAM：100G/200G BERT，支持 4通道NRZ 28 Gbit/s或4通道PAM4 28 GBd。 
  • BA-4000-4-56-PAM：200G/400G BERT，支持4通道NRZ 56 Gbit/s或4通道PAM4 56 GBd。 
  • BA-4000-8-28-PAM：200G/400G BERT，适用于8通道NRZ 28 Gbit/s或8通道PAM4 28 GBd。 
  • BA-4000-8-56-PAM：400G/800G BERT，适用于8通道NRZ 56 Gbit/s或8通道PAM4 56 GBd。 

BA-4000 误码率分析仪利用前向纠错（FEC）模拟功能，提供强大的突发错误分析能力。其主要 FEC 功能包括： 

  • PRBS错误检测和修正 
  • Pre-FEC和Post-FEC BER 
  • KP4/KR4和低延迟FEC协议 
  • FEC码型生成器和检测器（FGC），支持RS-FEC Scrambled Idle码型 
  • FEC符号错误（FEC symbol error）分布图：码字 vs 符号错误 
  • FEC裕量自动计算 

整套误码率分析仪，支持高达800G的研发和制造应用 

BA-4000是一流的100G/800G系列电误码率（BER）分析仪。它专为产 线、质量控制和研发应用而设计，可测试从器件到光模块和线缆的各种设备。 

BA-4000-RCNC专门用于测试线性驱动可插拔光器件（LPO）， 后者是一种满足AI/ML应用所需的高带宽和低功耗互连需求的技术。BA-4000-RCNC测试结果与实际开关性能之间存在很强的相关性，从而降低了不确定性，使制造商能够自信高 效地鉴定光模块。 

支持从研发到鉴定和制造的多种用例

IC供应商/制造商

信号质量优异

光模块和线缆制造商

探索BA-4000的FEC功能 

误码率（BER）是基于PAM4调制的光模块和传输系统性能的主要指标。探索BA-4000提供的所有高级FEC功能。 

强大的均衡器和通道模拟器，专为LPO测试设计 

对于LPO光模块，没有DSP来预处理或均衡电信号，如同在重新定时光系统中那样。因此，host侧信号完整性的任何变化都会反映到光侧，而信号切换的次数越多，造成误码的可能性就越大。传统的光模块测试技术无法检测到这种信号劣化，因此需要新的、更强大的测试技术。BA-4000-RCNC可以检测到是否存在反射、码间干扰（ISI）和前向纠错（FEC）尾部不稳定性，这些都是关键的性能指标，从而能够检测到是否存在误码。 

支持

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