技术文档

规格书、参考指南和白皮书。在这里您可以找到需要的所有资料,更深入地了解我们的测试编排与实时的3D分析解决方案。

规格书
FTBx-5245/5255光谱分析仪 - English (2025年8月01日)
规格书
FTBx-5245/5255光谱分析仪 - Français (2025年8月01日)
规格书
800G/400G Power Blazer - English (2025年8月01日)
规格书
800G/400G Power Blazer - Français (2025年8月01日)
规格书
800G/400G Power Blazer - 中文 (2025年8月01日)
规格书
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - English (2025年8月01日)
规格书
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - Français (2025年8月01日)
规格书
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - 中文 (2025年8月01日)
规格书
OSICS SWT和SWT APC - 中文 (2025年8月01日)
规格书
OSICS SWT和SWT APC - English (2025年8月01日)
规格书
多协议传输与数据通信测试解决方案 - English (2025年8月01日)
规格书
多协议传输与数据通信测试解决方案 - Français (2025年8月01日)
规格书
多协议传输与数据通信测试解决方案 - 中文 (2025年8月01日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - English (2025年8月01日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - Français (2025年8月01日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - 中文 (2025年8月01日)
规格书
MAX-5205/FTBx-5205 - English (2025年8月01日)
规格书
MAX-5205/FTBx-5205 - Français (2025年8月01日)
规格书
MAX-5205/FTBx-5205 - 中文 (2025年8月01日)
规格书
T200S - English (2025年8月01日)
规格书
T200S - Français (2025年8月01日)
规格书
T200S - 中文 (2025年8月01日)
规格书
FIP-400B光纤端面检测器系列 - English (2025年8月01日)
规格书
FIP-400B光纤端面检测器系列 - Français (2025年8月01日)
规格书
FIP-400B光纤端面检测器系列 - Deutsch (2025年8月01日)
规格书
FIP-400B光纤端面检测器系列 - 中文 (2025年8月01日)
规格书
EXFO Multilink - English (2025年8月01日)
规格书
EXFO Multilink - Français (2025年8月01日)
规格书
EXFO Multilink - Deutsch (2025年8月01日)
规格书
EXFO Multilink - 中文 (2025年8月01日)