CT440, el evaluador compacto de EXFO, posibilita pruebas rápidas y precisas de componentes ópticos pasivos (p. ej., MUX/DEMUX, filtros, divisores) y módulos (ROADM,WSS). Además, la unidad abarca un rango espectral de entre 1240 nm y 1680 nm, lo que permite realizar mediciones en toda la banda de telecomunicaciones. Con la opción PDL, CT440 puede medir simultáneamente la pérdida de inserción y la pérdida dependiente de polarización.
Barrido de banda completa
CT440 (modelo SMF) puede funcionar entre 1240 nm y 1680 nm, y es totalmente compatible con la serie T100S-HP de láseres ajustables de EXFO. Cuando se usan varios TSL, CT440 puede cambiar automáticamente de un láser a otro para permitir mediciones de banda completa impecables. La conexión única con el DUT significa que no se necesita ningún conmutador externo.
Medición rápida de pérdidas de inserción
CT440 cuenta con una exclusiva combinación de un sistema electrónico de alta velocidad con interferometría óptica. Los cuatro detectores integrados permiten medir simultáneamente cuatro canales con un rango dinámico de 65 dB en una sola barrida de láser. Además, la precisión de longitud de onda de ±5 pm se logra a cualquier velocidad de barrido, sin poner en riesgo ni la velocidad de medición, ni la precisión.
Medición precisa de pérdida de inserción
CT440 es una solución con una buena relación costo-beneficio que no afecta el rendimiento. Al contar con fotodetector de monitoreo, resolución de tomas de muestras ajustable, precisión de longitudes de onda superior y ondímetro incorporado, brinda todo lo necesario para lograr mediciones precisas en una sola caja cuando se lo conecta una fuente de láser ajustable y una PC.
